- 专利标题: 超表面光学器件的光学单元几何参数确定方法及光学器件
-
申请号: CN202311627126.7申请日: 2023-11-29
-
公开(公告)号: CN117806033B公开(公告)日: 2024-08-06
- 发明人: 吴辰阳 , 黄选纶 , 纪一鹏 , 王嘉星
- 申请人: 深圳博升光电科技有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市福田保税区桃花路17号江贸工贸仓储楼三层整层
- 专利权人: 深圳博升光电科技有限公司
- 当前专利权人: 深圳博升光电科技有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市福田保税区桃花路17号江贸工贸仓储楼三层整层
- 代理机构: 北京志霖恒远知识产权代理有限公司
- 代理商 郭栋梁
- 主分类号: G02B27/00
- IPC分类号: G02B27/00
摘要:
本公开涉及光电器件技术领域,提供了一种超表面光学器件的光学单元几何参数确定方法及光学器件。该超表面光学器件包括多个晶胞,各晶胞包括设置于衬底上的光学单元,该方法包括根据目标无衍射光束类型确定其对应的第一二维相位分布;根据目标光斑阵列确定其对应的第二二维相位分布;对第一二维相位分布和第二二维相位分布进行叠加,获得第三二维相位分布;根据几何参数与透射率的对应关系以及几何参数与透射相位的对应关系,与第三二维相位分布进行匹配,以获得光学单元对应的几何参数。采用本公开的方法所获得的超表面光学器件,可显著减小器件体积,适用范围广泛,同时可灵活选择无衍射光束与光斑阵列,满足了多样化的使用需求。
公开/授权文献
- CN117806033A 超表面光学器件的光学单元几何参数确定方法及光学器件 公开/授权日:2024-04-02