本发明涉及一种芯片缺陷检测方法和系统，其中，方法包括：获取芯片的一维振动信号并转化为二维图像数据，通过二维图像数据训练算法NAS，并对算法NAS进行优化，得到神经架构搜索算法模型ASNDARTS，基于所述神经架构搜索算法模型ASNDARTS构建知识蒸馏算法模型DPSKD，获取待检测芯片的一维振动信号并转化为二维图像数据，通过所述知识蒸馏算法模型DPSKD对待检测芯片的二维图像数据进行检测，以判断待检测芯片是否存在缺陷。本发明对算法NAS进行了优化，并对知识蒸馏传递方式进行了优化，得到的模型DPSKD在模型冗余度降低的前提下有效提高芯片缺陷检测的准确性。