- 专利标题: 一种用于智能手机主板的测试方法及测试系统
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申请号: CN202311769074.7申请日: 2023-12-21
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公开(公告)号: CN117675986B公开(公告)日: 2024-06-11
- 发明人: 周洪旋 , 张雄 , 吴燕
- 申请人: 上海大帜信息技术有限公司
- 申请人地址: 上海市徐汇区枫林路420号2层A区
- 专利权人: 上海大帜信息技术有限公司
- 当前专利权人: 上海大帜信息技术有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市徐汇区枫林路420号2层A区
- 代理机构: 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所
- 代理商 李兰兰
- 主分类号: H04M1/24
- IPC分类号: H04M1/24 ; H04M1/02
摘要:
本发明公开了一种用于智能手机主板的测试方法及测试系统,包括:测试采集模块,对手机主板的运行项目进行测试,并得到测试运行数据;测试分析模块,对项目差值进行比较分析,得到每次的检测结果;测试平台,将多次重复测试的检测通过和检测不通过按照测试顺序进行排列,并获取到持续次数波动比值和中断次数波动比值,计算得到测试稳定值;影响采集模块,获取到测试环境数据、设备数据,并分别进行比较,得到环境设备信号;影响共振模块,获取到检测合格信号或检测不合格信号,进行共振分析,得到影响信号;本发明对测试的环境和设备,与检测结果进行共振分析,判断其外界环境对测试结果的影响,有效保证后续对手机主板质量进行检测的准确性。
公开/授权文献
- CN117675986A 一种用于智能手机主板的测试方法及测试系统 公开/授权日:2024-03-08