本发明公开一种半导体激光器的泵浦特性评估装置及方法，涉及激光技术领域，装置包括LD功率分布测量组件、电控组件及有效泵浦因子计算组件；电控组件用于为待测半导体激光组件提供驱动电源；LD功率分布测量组件用于：基于温度调节指令对待测半导体激光组件的工作环境温度进行调节；基于数据采集指令采集待测半导体激光组件在不同电流、不同温度下的输出功率及光谱特性；有效泵浦因子计算组件用于根据待测半导体激光组件在不同电流、不同温度下的输出功率及光谱特性，计算有效泵浦功率、有效泵浦因子及残余泵浦功率，以表征待测半导体激光组件的泵浦特性。本发明对半导体激光器的泵浦特性进行量化表征，提高光纤真实转换效率的计算精确性。