本申请提供了一种针对目标电容屏的测试方法、装置以及电子设备，涉及电数字数据处理领域。方法包括：响应于用户针对目标电容屏中IC主控的测试操作，获取IC主控对应的主控信息，主控信息包括芯片方案商信息、型号信息以及芯片版本信息；在预设测试数据库中，获取主控信息对应的第一测试工具，预设测试数据库用于保存主控信息、第一测试工具以及主控信息与第一测试工具的对应关系；通过第一测试工具，对目标电容屏进行测试操作，并获取测试结果。本申请的技术方案，解决了仅靠测试人员对目标电容屏进行测试操作，耗时较高，且效率较低的问题。