本发明公开了一种改良Type‑C端子下陷不良生产工艺及端子检测装置，包括以下步骤：步骤一：将熔化的塑料注入金属胎膜中，然后快速冷却成型得到加长后塞及护套；步骤二：将片材放入冲压机中冲压成型得到端子；步骤三：将成型后的端子利用端子检测装置对其进行抽检；步骤四：将端子进行电镀处理；步骤五：最近进行各部件的组装，本发明通过将后塞的结构重新设计，加长后塞包住端子的尺寸，稳定端子，端子与护套对插后无干涉，降低生产不良率，同时利用检测装置对成型后的端子进行检测，利用简单解决了端子外形难以检测提高组装效率，进一步降低了不良率。