结合激光干涉成像的缺陷检测方法及系统
摘要:
本发明提供了结合激光干涉成像的缺陷检测方法及系统,涉及缺陷检测技术领域,该方法包括:获取目标器件的标准样本,其中,所述标准样本具备标准空间信息和标准光谱信息;通过所述激光干涉成像仪对所述目标器件进行干涉成像分析,得到目标干涉信息,其中,所述目标干涉信息包括目标空间信息和目标光谱信息;对比所述标准空间信息与所述目标空间信息得到第一对比数据,对比所述标准光谱信息与所述目标光谱信息得到第二对比数据;得到目标缺陷检测结果,解决了现有技术中在对各器件进行缺陷检测时,无法智能化进行全方位的缺陷检测,同时缺乏对器件缺陷的有效评估,导致缺陷检测结果不准确的技术问题,本发明达到了提升缺陷检测的准确度的效果。
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