发明公开
- 专利标题: 边缘抛光设备及边缘抛光方法
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申请号: CN202311595528.3申请日: 2023-11-27
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公开(公告)号: CN117359472A公开(公告)日: 2024-01-09
- 发明人: 张申申 , 孙介楠
- 申请人: 西安奕斯伟材料科技股份有限公司 , 西安奕斯伟硅片技术有限公司
- 申请人地址: 陕西省西安市高新区西沣南路1888号1-3-029室
- 专利权人: 西安奕斯伟材料科技股份有限公司,西安奕斯伟硅片技术有限公司
- 当前专利权人: 西安奕斯伟材料科技股份有限公司,西安奕斯伟硅片技术有限公司
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市高新区西沣南路1888号1-3-029室
- 代理机构: 西安维英格知识产权代理事务所
- 代理商 侯丽丽; 归莹
- 主分类号: B24B29/04
- IPC分类号: B24B29/04 ; B24B53/12 ; B24B53/00 ; B24B1/00
摘要:
本公开涉及边缘抛光设备及边缘抛光方法,所述边缘抛光设备包括:用于承载硅片的承载模块;边缘抛光模块,所述边缘抛光模块设置成用于对所述硅片的边缘进行抛光;修整模块;其中,所述修整模块包括抛磨部和清理部,所述抛磨部设置成能够在所述边缘抛光模块对所述硅片的边缘进行抛光的同时,通过抛磨所述边缘抛光模块来对所述边缘抛光模块进行修整,所述清理部设置成能够在所述边缘抛光模块对所述硅片的边缘进行抛光的同时,通过清理所述边缘抛光模块来对所述边缘抛光模块进行修整。