Invention Publication
- Patent Title: 一种基于双能X射线的矿石料层厚度检测系统
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Application No.: CN202210610773.6Application Date: 2022-05-31
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Publication No.: CN117190928APublication Date: 2023-12-08
- Inventor: 过宇晟 , 李宗平 , 曾小信 , 李旭东 , 师本敬 , 朱佼佼
- Applicant: 中冶长天国际工程有限责任公司
- Applicant Address: 湖南省长沙市岳麓区节庆路7号
- Assignee: 中冶长天国际工程有限责任公司
- Current Assignee: 中冶长天国际工程有限责任公司
- Current Assignee Address: 湖南省长沙市岳麓区节庆路7号
- Agency: 北京弘权知识产权代理有限公司
- Agent 逯长明; 许伟群
- Main IPC: G01B15/02
- IPC: G01B15/02 ; G01N23/087

Abstract:
本申请涉及矿石检测技术领域,提供一种基于双能X射线的矿石料层厚度检测系统,包括双能X射线矿石扫描装置和中央控制系统,通过所述X射线源向所述矿石输送皮带上的矿石发射X射线,由所述线阵列探测器采集X射线透射高低能灰度图像,其中,所述X射线透射高低能灰度图像包括X射线透射高能灰度图像和X射线透射低能灰度图像。将采集的X射线透射高低能灰度图像传输至中央控制系统,以有中央控制系统根据预先建立的厚度识别模型,结合当前矿石的品位信息,得到当前矿石的料层厚度。
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