- 专利标题： 采样点的分类方法、装置、电子设备及可读存储介质
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申请号： CN202311140928.5申请日： 2023-09-05
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公开(公告)号： CN116894209B公开(公告)日： 2023-12-22
- 发明人: 陈国凯 , 勾凌睿 , 王凯帆 , 陈键 , 唐丹 , 包云岗 , 郭新贺
- 申请人： 北京开源芯片研究院
- 申请人地址： 北京市海淀区海淀大街31号3层312
- 专利权人： 北京开源芯片研究院
- 当前专利权人： 北京开源芯片研究院
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区海淀大街31号3层312
- 代理机构： 北京润泽恒知识产权代理有限公司
- 代理商 苏培华
- 主分类号： G06F18/241
- IPC分类号： G06F18/241 ; G06F18/22 ; G06F18/23213
摘要：
本发明实施例提供一种采样点的分类方法、装置、电子设备及可读存储介质，涉及计算机技术领域。该方法包括：获取目标时间段内各采样点对应的基本块向量；基本块向量用于表征采样点对应的各个基本块的时序关系和基本块标识；根据基本块向量，确定至少一个目标基本块序列；目标基本块序列包括在采样点内存在连续调用关系的至少两个基本块；基于至少一个目标基本块序列，对目标时间段内的各采样点进行聚(56)对比文件Yinan Xu 等.Towards Developing HighPerformance RISC-V Processors Using AgileMethodology《.2022 55th IEEE/ACMInternational Symposium onMicroarchitecture》.2022,第1178-1199页.Steven Flolid 等.Simtrace: Capturingover time program phase behavior《.2020IEEE International Symposium onPerformance Analysis of Systems andSoftware》.2020,第226-228页.
公开/授权文献
- CN116894209A 采样点的分类方法、装置、电子设备及可读存储介质 公开/授权日：2023-10-17
