发明公开
- 专利标题: 一种适用于直径3mm以下拉伸断口中心纵面EBSD试样制备方法
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申请号: CN202310918185.3申请日: 2023-07-25
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公开(公告)号: CN116893092A公开(公告)日: 2023-10-17
- 发明人: 张艳 , 赵永庆 , 贾蔚菊 , 赵秦阳 , 高广睿 , 周伟 , 毛成亮 , 呼丹 , 王建军
- 申请人: 东北大学 , 西北有色金属研究院 , 长安大学 , 西安赛福斯材料防护有限责任公司
- 申请人地址: 辽宁省沈阳市和平区文化路三巷11号; ; ;
- 专利权人: 东北大学,西北有色金属研究院,长安大学,西安赛福斯材料防护有限责任公司
- 当前专利权人: 东北大学,西北有色金属研究院,长安大学,西安赛福斯材料防护有限责任公司
- 当前专利权人地址: 辽宁省沈阳市和平区文化路三巷11号; ; ;
- 代理机构: 西安创知专利事务所
- 代理商 马小燕
- 主分类号: G01N1/28
- IPC分类号: G01N1/28 ; B23P15/00
摘要:
本发明公开了一种适用于直径3mm以下拉伸断口中心纵面EBSD试样制备方法,该方法包括:一、夹持拉伸样并水平放置,将线切割丝行走至拉伸断口处后行走至拉伸样的直径一半处进丝,而后沿水平方向走丝切割,获得拉伸断口中心纵面试样;二、对拉伸断口中心纵面试样的圆弧面粗磨;三、翻面后对线切割面粗磨和细磨;四、电解抛光。本发明通过对进丝位置和走丝切割过程的设计,结合粗磨,获得形状规则的拉伸断口中心纵面EBSD试样,避免了镶样后敲样过程对拉伸断口中心纵面EBSD试样的损害可能,从而正确对拉伸样进行组织结构、织构、变形行为分析,适用于直径3mm以下拉伸试样,过程简单易行,后续EBSD检测分析数据准确性高。