本发明公开了一种用于512DUT存储器器件测试的板卡结构，属于芯片测试技术领域，具体包括设置于测试头内的信号发生器和主板，以及构成Hi‑Fix的接口板和插座基板，其中：主板，用于将来自不同信号发生器中的信号整理成相同的block并连接到接口板中，根据待测芯片选择对应的信号发生器配置；接口板，用于作为连接器联通主板和插座基板，通过relay切换使用接口板中的信号，并用于放置插座基板中放置不下的器件；插座基板，用于直接与待测芯片接触并进行测试，在同一个机台中测试不同的待测芯片，由若干个小板卡组成；本发明降低了芯片测试的板卡的复杂度，增加了可替代性。