本发明涉及测量技术领域，公开了一种基于偏振光能差的亚微米颗粒粒度测量方法及系统，包括：透过目标颗粒样品发射第一入射光后，获取所述第一入射光对应的多个散射角度的第一散射光；透过目标颗粒样品发射第二入射光后，获取所述第二入射光对应的多个散射角度的第二散射光；按照预设方法根据所述第一散射光和所述第二散射光所对应的第一偏振光能分布矩阵E⊥和第二偏振光能分布矩阵E∥的差值获取所述目标颗粒样品的颗粒粒度分布W。利用亚微米颗粒产生的散射光表现出的对激发管偏振态的强烈依赖性，通过偏振光能差，获得更多亚微米颗粒粒径相关散射光数据，是实现亚微米颗粒测量的重要技术。