本发明公开了一种检测销钉缺陷图像的方法及装置，涉及神经架构技术领域；方法包括获得销钉图像，输入至改进并训练好的销钉缺陷检测神经网络并获得销钉缺陷；所述销钉缺陷检测神经网络基于YOLOv5将Neck与Output部分网络结构改进后获得，用BiFPN网络替代Neck部分原来的PANet网络，用CIoU函数来替代Output部分原来的GIoU函数；装置包括检测模块，用于获得销钉图像，输入至改进并训练好的销钉缺陷检测神经网络并获得销钉缺陷；基于YOLOv5，用BiFPN网络替代Neck的PANet网络，用CIoU函数替代Output的GIoU函数，实现销钉图像检测准确率高。