Invention Grant
- Patent Title: 终端放松测量方法及装置
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Application No.: CN202310669060.1Application Date: 2023-06-07
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Publication No.: CN116405969BPublication Date: 2023-09-15
- Inventor: 王贻先 , 程运 , 张一鸣 , 周江平
- Applicant: 武汉世炬信息技术有限公司
- Applicant Address: 湖北省武汉市武昌区水果湖街中北路9号办公楼、商业裙房(长城汇二期)1、2栋2单元19层1号R2、R3单元(电梯楼层为长城汇T2写字楼第21层R2、R3单元)
- Assignee: 武汉世炬信息技术有限公司
- Current Assignee: 武汉世炬信息技术有限公司
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市武昌区水果湖街中北路9号办公楼、商业裙房(长城汇二期)1、2栋2单元19层1号R2、R3单元(电梯楼层为长城汇T2写字楼第21层R2、R3单元)
- Agency: 北京中索知识产权代理有限公司
- Agent 胡大成
- Main IPC: H04W24/08
- IPC: H04W24/08 ; H04W24/10 ; H04W36/00 ; H04W36/30

Abstract:
本申请提供一种终端放松测量方法及装置,用以解决非小区边缘评估准确率低,导致终端放松测量准确性低的技术问题。测量方案包括:终端从基站发送的系统信息块消息中,获得放松测量参数;终端接收基站发送的释放信令后,由连接状态切换到空闲状态或非激活状态,开始测量服务小区的参考信号接收功率、参考信号接收质量,和邻小区的参考信号接收功率、参考信号接收质量,并生成测量报告;终端根据放松测量参数、测量报告,评估是否满足放松测量条件;当满足放松测量条件时,终端降低测量频率,避免因为误判导致开启放松测量影响正常的终端小区重选过程,在保证无线通信网络服务质量的同时,提高终端非小区边缘的准确性,降低了终端的功耗。
Public/Granted literature
- CN116405969A 终端放松测量方法及装置 Public/Granted day:2023-07-07
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