- 专利标题: 用于快速变化的电源信号的测试方法及测试电路
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申请号: CN202310273997.7申请日: 2023-03-20
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公开(公告)号: CN116338509B公开(公告)日: 2023-08-29
- 发明人: 邱小燕
- 申请人: 武汉芯必达微电子有限公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区九峰街道高新大道776号创谷育成特区A2栋16层(自贸区武汉片区)
- 专利权人: 武汉芯必达微电子有限公司
- 当前专利权人: 武汉芯必达微电子有限公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区九峰街道高新大道776号创谷育成特区A2栋16层(自贸区武汉片区)
- 代理机构: 武汉智权专利代理事务所
- 代理商 张凯
- 主分类号: G01R31/40
- IPC分类号: G01R31/40
摘要:
本发明公开了一种用于快速变化的电源信号的测试方法及测试电路,涉及半导体电源模块测试领域。该方法的步骤包括:进行负载瞬态测试时,在MOS管的D极施加电压,通过控制MOS管G级的电压,来改变MOS管S极的电压和电流,MOS管S极的电压和电流改变时产生负载瞬态跳变;进行PSRR测试时,控制MOS管工作在可变电阻区和恒流区,通过与MOS管串联的可调电阻改变MOS管的电压,MOS管G极的电压变化带动可调电阻的电压变化后,产生需要的纹波叠加电源信号。本发明能够在提高现有测试仪器的负载瞬态跳变速率的同时,提高PSRR测试的带宽范围,进而满足现有技术中的应用测试需求。
公开/授权文献
- CN116338509A 用于快速变化的电源信号的测试方法及测试电路 公开/授权日:2023-06-27