发明公开
- 专利标题: 电离层异常检测方法、装置、计算机设备和存储介质
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申请号: CN202211595147.0申请日: 2022-12-13
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公开(公告)号: CN115877406A公开(公告)日: 2023-03-31
- 发明人: 黄炜昭 , 辛拓 , 陈龙 , 余广译 , 陈远 , 黄林超 , 覃平 , 吉丽娅 , 刘岚 , 崔冉
- 申请人: 深圳供电局有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市罗湖区深南东路4020号电力调度通信大楼
- 专利权人: 深圳供电局有限公司
- 当前专利权人: 深圳供电局有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市罗湖区深南东路4020号电力调度通信大楼
- 代理机构: 华进联合专利商标代理有限公司
- 代理商 卢晓霞
- 主分类号: G01S19/07
- IPC分类号: G01S19/07 ; G01S19/29 ; G06F18/2433 ; G06F123/02
摘要:
本申请涉及一种电离层异常检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:获取待检测的当前时间序列,当前时间序列用于反映电离层的总电子含量波动特征;基于时间检测窗口,将当前时间序列划分为两个相邻子序列,计算两个相邻子序列的方差差异值;多次调整时间检测窗口的长度,对应获取多个方差差异值,将最大方差差异值对应的两个相邻子序列作为第一检测子序列和第二检测子序列,第一检测子序列的长度与对应时间检测窗口的长度相同;根据第一检测子序列和第二检测子序列中的异常点,获取当前时间序列的异常检测结果,根据异常检测结果,确定电离层是否出现异常。采用本方法能够实现高精度的电离层异常检测。