Invention Publication
- Patent Title: 放射线检查方法、放射线检查装置、放射线检查系统和放射线检查程序
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Application No.: CN202180028011.9Application Date: 2021-04-05
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Publication No.: CN115380205APublication Date: 2022-11-22
- Inventor: 大西达也 , 须山敏康
- Applicant: 浜松光子学株式会社
- Applicant Address: 日本静冈县
- Assignee: 浜松光子学株式会社
- Current Assignee: 浜松光子学株式会社
- Current Assignee Address: 日本静冈县
- Agency: 北京尚诚知识产权代理有限公司
- Agent 杨琦; 陈明霞
- Priority: 2020-073550 20200416 JP
- International Application: PCT/JP2021/014554 2021.04.05
- International Announcement: WO2021/210442 JA 2021.10.21
- Date entered country: 2022-10-12
- Main IPC: G01N23/04
- IPC: G01N23/04 ; G01N23/087 ; G01T1/17

Abstract:
放射线检查装置获取第1图像和第2图像,在第1图像或者第2图像中受理与物品对应的区域中的关注区域的选择输入,确定多个第1像素的各自的第1像素值和与多个第1像素对应的多个第2像素的各自的第2像素值,通过对第1像素值和与第1像素值对应的第2像素值的关系进行近似来计算厚度校正函数,基于多个第1像素的各自的第1像素值和与多个第1像素对应的多个第2像素的各自的第2像素值,分别计算作为第1代表值与第2代表值的组合的多个代表数据,并计算基于厚度校正函数与计算出的多个代表数据的相关性的评价系数。
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