发明公开
- 专利标题: 一种数据指针老化的检测方法
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申请号: CN202210599567.X申请日: 2022-05-30
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公开(公告)号: CN114911660A公开(公告)日: 2022-08-16
- 发明人: 罗超 , 高志 , 吴小林
- 申请人: 成都北中网芯科技有限公司
- 申请人地址: 四川省成都市武侯区益州大道中段599号航天科创中心13号楼
- 专利权人: 成都北中网芯科技有限公司
- 当前专利权人: 成都北中网芯科技有限公司
- 当前专利权人地址: 四川省成都市武侯区益州大道中段599号航天科创中心13号楼
- 代理机构: 中国兵器工业集团公司专利中心
- 代理商 辛海明
- 主分类号: G06F11/22
- IPC分类号: G06F11/22
摘要:
本发明涉及一种数据指针老化的检测方法,属于计算机网络领域。本发明通过数据ram存储数据,数据ram的读写运用地址进行管理,使用另一块ram对这块数据ram的地址进行管理,称为管理ram,使用一块用于老化的ram,称为老化ram;在数据ram某一地址进行数据写的时候就往该地址对应的管理ram的bit写1,写入1表示该地址已被占用;当数据ram的某一地址的指针被释放时,释放地址对应的管理ram和老化ram的值都由1变为0;每隔检查时间间隔T将管理ram的状态刷新至老化ram中,若管理ram中的1写入对应位置老化ram时,若此时该老化ram的对应位置为0,则直接更新为1;若此时该老化ram的对应位置也为1,即视为该指针已经老化。本发明大大的节省了资源和老化检查时间。
公开/授权文献
- CN114911660B 一种数据指针老化的检测方法 公开/授权日:2024-11-05