发明公开
- 专利标题: 基于稀疏像元强度矢量分析的放电定位成像方法及装置
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申请号: CN202111680464.8申请日: 2021-12-31
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公开(公告)号: CN114910750A公开(公告)日: 2022-08-16
- 发明人: 任明 , 王彬 , 李琛 , 王玥 , 关浩斌 , 陈荣发 , 余家赫 , 李乾宇 , 张洪源
- 申请人: 西安交通大学
- 申请人地址: 陕西省西安市咸宁西路28号
- 专利权人: 西安交通大学
- 当前专利权人: 西安交通大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市咸宁西路28号
- 代理机构: 北京中济纬天专利代理有限公司
- 代理商 覃婧婵
- 主分类号: G01R31/12
- IPC分类号: G01R31/12
摘要:
公开了基于稀疏像元强度矢量分析的放电定位成像方法及装置,方法中,采集检测视场的可见光图像,按照n×n雪崩光电二极管阵列的各单元对应位置对可见光图像进行区域分割形成视场分割区域,使用镜头远焦模式对检测视场进行全局扫描,放电光子的放电点落在雪崩光电二极管阵列的某一像元上,当雪崩光电二极管阵列中的单元响应强度超过噪声阈值时,判定视场分割区域有放电正在发生,并选择像元的对应区域为放电源的初筛区域;将镜头对准初筛区域,使用镜头近焦模式对放电光子进行二次检测,记录雪崩光电二极管阵列每一个像元的响应强度;计算相邻2×2像元阵列的强度之和,并搜索最大的相邻2×2像元位置;通过矢量叠加算法求解放电点的位置坐标。