• 专利标题: 一种消除本征柔性线圈形变对磁场测量不利影响的方法
  • 申请号: CN202210103527.1
    申请日: 2022-01-19
  • 公开(公告)号: CN114527417B
    公开(公告)日: 2024-05-07
  • 发明人: 王璐珩郭丁雨胡智能
  • 申请人: 中南大学
  • 申请人地址: 湖南省长沙市岳麓区麓山南路中南大学自动化学院
  • 专利权人: 中南大学
  • 当前专利权人: 中南大学
  • 当前专利权人地址: 湖南省长沙市岳麓区麓山南路中南大学自动化学院
  • 主分类号: G01R33/09
  • IPC分类号: G01R33/09
一种消除本征柔性线圈形变对磁场测量不利影响的方法
摘要:
本发明提出的消除本征柔性线圈形变对磁场测量不利影响的方法,属于测量技术领域。该方法用本征柔性线圈电阻值及其所在的标定电阻子区间的电阻平均变化率和形变‑电阻特性标定数据得到本征柔性线圈形变值和有效标定形变子区间;用本征柔性线圈感应电动势值及其所在的标定感应电动势子区间的感应电动势平均变化率和磁感应强度‑感应电动势特性标定数据得到与有效标定形变值相对应的磁感应强度值,进而用柔性线圈的形变值、有效标定形变子区间的磁感应强度平均变化率和形变‑磁感应强度特性标定数据得到待测磁感应强度值。用本发明提出的方法能解决本征柔性线圈形变对磁场测量产生不利影响的难题,适用于现代大型设备狭小曲面层间磁场测量等领域。
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