Invention Publication
- Patent Title: 电子部件测试用分选机
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Application No.: CN202111481976.1Application Date: 2019-04-12
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Publication No.: CN114522907APublication Date: 2022-05-24
- Inventor: 李相勋 , 金平锡
- Applicant: 泰克元有限公司
- Applicant Address: 韩国京畿道华城市
- Assignee: 泰克元有限公司
- Current Assignee: 泰克元有限公司
- Current Assignee Address: 韩国京畿道华城市
- Agency: 北京铭硕知识产权代理有限公司
- Agent 李盛泉; 孙昌浩
- Priority: 10-2018-0047905 20180425 KR 10-2019-0029816 20190315 KR
- Main IPC: B07C5/344
- IPC: B07C5/344

Abstract:
本发明设计一种电子部件测试用分选机。本发明的一种电子部件测试用分选机,其特征在于,包括:防振用框架,与底座相隔而配备,并相对于底座进行相对游动,以抑制底座的振动对电子部件和测试插座之间的电连接产生的影响;振动吸收体,夹设于防振用框架与底座之间,从而最小化底座的振动传递至防振用框架;连接器,设置于防振用框架,并且使电子部件和测试插座电连接;收给器,将需测试的电子部件供应至测试插座,或回收测试完毕的电子部件;及控制器,控制连接器及收给器,其中,测试插座设置于防振用框架。根据本发明可最小化振动的传递,因此可维持电子部件和测试仪之间的电连接及其连接的精密性,最终可提升对测试结果的可靠性。
Public/Granted literature
- CN114522907B 电子部件测试用分选机 Public/Granted day:2025-01-14
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