Invention Grant
CN1144039C 单辐射源双成像扫描辐射成像方法及其装置
失效 - 权利终止
- Patent Title: 单辐射源双成像扫描辐射成像方法及其装置
- Patent Title (English): Radiation imaging method and device with single radiation source and dual scans
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Application No.: CN00124886.3Application Date: 2000-09-21
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Publication No.: CN1144039CPublication Date: 2004-03-31
- Inventor: 康克军 , 李荐民 , 高文焕 , 张化一 , 刘以农 , 李元景 , 陈志强 , 唐传祥 , 李君利
- Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
- Applicant Address: 北京市清华同方科技广场A座2907
- Assignee: 清华大学,清华同方威视技术股份有限公司
- Current Assignee: 清华大学,清华同方威视技术股份有限公司
- Current Assignee Address: 北京市清华同方科技广场A座2907
- Main IPC: G01N23/04
- IPC: G01N23/04 ; G01N23/083
Abstract:
本发明公开了一种单辐射源双成像扫描辐射成像的方法及其装置。它采用单辐射源发射两束不同角度X射线，用两组探测器阵列及与其连接的图像获取系统获取两个扫描图像。第一组探测器阵列获取图像为主视图反映物体的正视扫描图像，第二组探测器阵列获取图像为辅助视图反映物体的侧视扫描图像。解决了单一视角观察物体造成的物体图像叠加而无法分辨物体形状及本质问题。同现有技术比，本发明结构简单、成本低、检查速度快、方便便捷。
Public/Granted literature
- CN1343882A 单辐射源双成像扫描辐射成像方法及其装置 Public/Granted day:2002-04-10
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