发明授权
- 专利标题： 计测装置及计测方法
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申请号： CN202080056914.3申请日： 2020-08-27
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公开(公告)号： CN114222529B公开(公告)日： 2023-11-14
- 发明人: 中川弘充 , 田中毅 , 福井大辅
- 申请人： 株式会社日立高新技术
- 申请人地址： 日本东京都
- 专利权人： 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人： 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人地址： 日本东京都
- 代理机构： 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 高迪
- 国际申请： PCT/JP2020/032451 2020.08.27
- 国际公布： WO2021/131159 JA 2021.07.01
- 进入国家日期： 2022-02-11
- 主分类号： A61B5/117
- IPC分类号： A61B5/117 ; A61B5/11 ; G01B11/00 ; G06T7/00 ; G06T7/50
摘要：
一种具有处理器和存储部的计测装置，存储部保持由拍摄装置取得的按每时刻的计测数据、和时空间制约。处理器从按每时刻的计测数据提取物体的位置；判定物体是否满足时空间制约；基于物体是否满足时空间制约的判定结果，判定物体是否是解析对象。
公开/授权文献
- CN114222529A 计测装置及计测方法 公开/授权日：2022-03-22
