Invention Grant
- Patent Title: 离子检测器、测定装置及质量分析装置
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Application No.: CN201980099017.8Application Date: 2019-12-06
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Publication No.: CN114207773BPublication Date: 2024-09-20
- Inventor: 远藤刚志 , 小林浩之
- Applicant: 浜松光子学株式会社
- Applicant Address: 日本静冈县
- Assignee: 浜松光子学株式会社
- Current Assignee: 浜松光子学株式会社
- Current Assignee Address: 日本静冈县
- Agency: 北京尚诚知识产权代理有限公司
- Agent 杨琦
- International Application: PCT/JP2019/047965 2019.12.06
- International Announcement: WO2021/024505 JA 2021.02.11
- Date entered country: 2022-01-29
- Main IPC: H01J49/06
- IPC: H01J49/06 ; H01J49/26

Abstract:
本发明的实施方式涉及能够降低成为噪声成分的暗电流的离子检测器等。具有电子倍增部的离子检测器具有:屏蔽结构体,其在包含输入电极的被限制的空间内封闭以该输入侧电极为起点全方位地扩展的电位梯度;以及输入侧缆线,其一端与输入电极电连接。屏蔽结构体具有至少包围输入侧电极的结构,由1个或1个以上的构件构成。各构件由金属材料或绝缘性材料构成。另外,屏蔽结构体的一部分由金属制的网状窗构成。为了阻挡在屏蔽结构体的内外可能产生的不需要的离子及电子的到达,通过绝缘包覆覆盖输入侧缆线的外周面。
Public/Granted literature
- CN114207773A 离子检测器、测定装置及质量分析装置 Public/Granted day:2022-03-18
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