发明授权
- 专利标题: 半导体结构及其制作方法
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申请号: CN202010988656.4申请日: 2020-09-18
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公开(公告)号: CN114203638B公开(公告)日: 2024-06-11
- 发明人: 程明 , 金星 , 李冉
- 申请人: 长鑫存储技术有限公司
- 申请人地址: 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
- 专利权人: 长鑫存储技术有限公司
- 当前专利权人: 长鑫存储技术有限公司
- 当前专利权人地址: 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
- 主分类号: H10B12/00
- IPC分类号: H10B12/00
摘要:
本发明实施例提供一种半导体结构及其制作方法,半导体结构的制作方法包括:提供基底和位于基底上的位线结构,位线结构包括顶层介质层,位线结构相对两侧具有电容接触孔;形成覆盖顶层介质层侧壁的第一隔离侧墙,以及形成覆盖第一隔离侧墙侧壁的第二隔离侧墙,第一隔离侧墙位于位线结构和电容接触孔之间,第二隔离侧墙的顶面高于第一隔离侧墙的顶面;去除至少部分顶层介质层,形成第一空隙;进行沉积工艺,形成覆盖第一隔离侧墙顶面且封堵空隙顶部开口的第一封口膜,第一封口膜顶面高于第二隔离侧墙顶面;进行第一平坦化工艺,去除高于第二隔离侧墙顶面的第一封口膜,剩余第一封口膜作为第一封口层。本发明有利于提高半导体结构的结构稳定性。
公开/授权文献
- CN114203638A 半导体结构及其制作方法 公开/授权日:2022-03-18