- 专利标题: 检测或评估电离辐射损伤或暴露的试剂及其所用tRNA衍生片段
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申请号: CN202111474076.4申请日: 2021-12-03
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公开(公告)号: CN114150054A公开(公告)日: 2022-03-08
- 发明人: 危文俊 , 王菊芳 , 白皓 , 张亚楠 , 陈亚雄
- 申请人: 中国科学院近代物理研究所
- 申请人地址: 甘肃省兰州市城关区南昌路509号
- 专利权人: 中国科学院近代物理研究所
- 当前专利权人: 中国科学院近代物理研究所
- 当前专利权人地址: 甘肃省兰州市城关区南昌路509号
- 代理机构: 北京纪凯知识产权代理有限公司
- 代理商 关畅
- 主分类号: C12Q1/6883
- IPC分类号: C12Q1/6883 ; C12N15/11
摘要:
本发明公开了检测或评估电离辐射损伤或暴露的试剂及其所用tRNA衍生片段。具体地公开了一种检测或评估电离辐射损伤或暴露的生物标志物tRF‑Gln‑CTG‑018、tRF‑Lys‑CTT‑008和tRF‑Lys‑TTT‑019。通过RT‑qPCR技术验证和ROC曲线分析,所述生物标志物基因表达水平与辐射暴露显著相关,在判断是否受到电离辐射时具有较高的特异性和敏感性,可作为支持个体遭受电离辐射损伤或暴露的依据。利用所述生物标志物评估受试者受电离辐射损伤或暴露风险的方法具有灵敏度高、特异性好、无创、检测快捷,稳定性好的特点,具有广泛的临床应用前景。
公开/授权文献
- CN114150054B 检测或评估电离辐射损伤或暴露的试剂及其所用tRNA衍生片段 公开/授权日:2022-08-02