发明公开
- 专利标题: 一种用于测量激光选区熔化技术激光焦平面的方法
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申请号: CN202111350731.5申请日: 2021-11-15
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公开(公告)号: CN114087986A公开(公告)日: 2022-02-25
- 发明人: 张立强 , 刘洋 , 王志会
- 申请人: 北京德普润新材料科技有限公司
- 申请人地址: 北京市大兴区中关村科技园区大兴生物医药产业基地永旺西路26号院12-1号楼三层301室
- 专利权人: 北京德普润新材料科技有限公司
- 当前专利权人: 北京德普润新材料科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市大兴区中关村科技园区大兴生物医药产业基地永旺西路26号院12-1号楼三层301室
- 代理机构: 北京维正专利代理有限公司
- 代理商 张岭; 庄雅悯
- 主分类号: G01B11/00
- IPC分类号: G01B11/00 ; B22F10/80 ; B22F10/28 ; B33Y50/00
摘要:
本申请涉及增材制造的领域,尤其是涉及一种用于测量激光选区熔化技术激光焦平面的方法,其包括以下步骤:步骤一:放置测试装置;将测试装置放置在激光选区熔化设备的操作平台上,测试装置包括测试板,测试板与水平面呈锐角;步骤二:调整;调整激光选区熔化设备操作平台的高度,使金属粉末铺粉平台的高度位于测试板的中部区域;步骤三:测试;开启激光器,使得激光器的激光射在测试板不同高度位置上运行;步骤四:确定激光焦平面;关闭激光器,取下测试板,观察激光在测试板上不同高度位置的刻痕,根据刻痕的刻蚀深度和亮度确定激光焦平面。本申请具有便于使用者对激光选取熔化设备的焦平面是否偏转进行测量,以保证工件加工质量的效果。