Invention Grant
- Patent Title: 一种基于OpenCV的高反光瓶盖缺陷检测方法
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Application No.: CN202111222247.4Application Date: 2021-10-20
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Publication No.: CN114018946BPublication Date: 2023-02-03
- Inventor: 朱大虎 , 张曙文 , 杨永佳 , 涂秋平 , 田大庄 , 庄可佳
- Applicant: 武汉理工大学
- Applicant Address: 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
- Assignee: 武汉理工大学
- Current Assignee: 武汉理工大学
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
- Agency: 武汉科皓知识产权代理事务所
- Agent 杨宏伟
- Main IPC: G01N21/952
- IPC: G01N21/952 ; G06T7/00
Abstract:
本发明公开了一种基于OpenCV的高反光瓶盖缺陷检测方法,包括瓶盖端面检测和瓶盖侧面检测,首先采用相机对高反光瓶盖端部进行拍照,得到端面图像,利用边缘检测并拟合提取瓶盖边界曲线,利用OpenCV库中函数阈值分割寻找边界曲线内的缺陷,如果有缺陷,通过OpenCV库中函数将缺陷显示在图像上;之后采用至少四个方向对高反光瓶盖的侧面进行拍照,得到侧面图像,利用已知模板图像提取图像中瓶盖侧面的目标区域,并对目标区域进行图像预处理,之后利用OpenCV库中函数对侧面图像进行阈值分割识别缺陷,并将缺陷显示在侧面图像上。本发明计算效率高,所需算力小,能自动识别出塑料瓶盖上的划痕、凹坑等缺陷,并有效的定位缺陷的位置,大幅度提高了生产效率。
Public/Granted literature
- CN114018946A 一种基于OpenCV的高反光瓶盖缺陷检测方法 Public/Granted day:2022-02-08
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