本发明公开一种模拟电路状态评估方法和装置，解决现有方法和装置无法辨识元件参数的问题。所述方法，包含：向模拟电路注入脉冲信号使得元件参数从标称值开始变化，采集任一元件参数变化时刻的输出响应信号、进行归一化处理，得到该元件对应的归一化响应信号；对每一元件分别建立特征提取模型；将归一化响应信号作为输入与输出参数，构建自编码网络，对特征提取模型进行训练，得到元件特征值；对每一元件构建最大映射关系和最小映射关系；根据所述最大映射关系和最小映射关系、计算每一元件的映射差值，找到最小的映射差值对应的元件，计算元件评估值、与该元件标称值对比，判断模拟电路状态。本发明实现模拟电路状态的准确、快速评估。