- 专利标题: 热成像模组光心偏差确定方法、光心对齐方法及装置
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申请号: CN202111165818.5申请日: 2021-09-30
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公开(公告)号: CN113834640B公开(公告)日: 2024-03-01
- 发明人: 温俊阳
- 申请人: 杭州微影软件有限公司
- 申请人地址: 浙江省杭州市滨江区西兴街道丹枫路399号2号楼B楼313室
- 专利权人: 杭州微影软件有限公司
- 当前专利权人: 杭州微影软件有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市滨江区西兴街道丹枫路399号2号楼B楼313室
- 代理机构: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司
- 代理商 许振新
- 主分类号: G01M11/02
- IPC分类号: G01M11/02
摘要:
本说明书提供一种热成像模组光心偏差确定方法、光心对齐方法和装置。该光心对齐方法包括:确定热成像模组的传感器芯片的成像靶面的中心位置;在热成像模组的镜头组件位于传感器芯片正前方的状态下获取传感器芯片采集的第一图像信号;利用所述第一图像信号确定镜头组件的光心对应到成像靶面的光心位置;根据所述光心位置和所述成像靶面的中心位置确定镜头组件的光心相对于传感器芯片的中心的偏差;当所述偏差不满足允许偏差条件时,调整所述镜头组件和传感器芯片之间的相对位置,以减小镜头组件的光心相对于传感器芯片的中心的偏差。本说明书的对齐方案可对热成像模组进行光心对齐。
公开/授权文献
- CN113834640A 热成像模组光心偏差确定方法、光心对齐方法及装置 公开/授权日:2021-12-24