检测方法及装置
摘要:
本公开涉及检测方法及装置,所述方法包括:配置所述显示面板的各个发光二极管的电源正极端或电源负极端为高阻状态;采集各个发光二极管的电源负极端的端电压;根据所述端电压的变化确定所述显示设备的坏点位于所述驱动电路或所述显示面板。本公开实施例通过配置所述显示面板的各个发光二极管的电源正极端或电源负极端为高阻状态,并根据端电压的变化可以准确、快速地判定坏点的位置,以改善显示设备的制造工艺。
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