- 专利标题: 一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法
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申请号: CN202110682823.7申请日: 2021-06-18
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公开(公告)号: CN113468003B公开(公告)日: 2023-06-02
- 发明人: 郭希训 , 于威 , 刘圆 , 牛沿笼 , 孙怡乐 , 石加圣
- 申请人: 上海芷锐电子科技有限公司
- 申请人地址: 上海市闵行区苏召路1628号
- 专利权人: 上海芷锐电子科技有限公司
- 当前专利权人: 上海芷锐电子科技有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区苏召路1628号
- 代理机构: 南京钟山专利代理有限公司
- 代理商 戴朝荣
- 主分类号: G06F11/22
- IPC分类号: G06F11/22 ; G06F40/177
摘要:
本发明公开了一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法,系统包括:转换模块测试单元格式转换;整合模块测试单元数据和测试单元的整合;树形结构构造模块对表格型数据进行解析,将表格型数据转换为有层次结构的树形数据;显示模块将需要追踪的数据添加到波形窗口;数据操作模块对需要操作的树形数据进行操作。本发明将原始的文本数据按照树形结构显示,可以实时的响应用户的操作,对海量数据进行检索,设计的波形窗口可以对数据进行合并,拆分,进制转换等操作,解决了芯片测试的数据量大,数据不直观,难以追踪与比较的问题。
公开/授权文献
- CN113468003A 一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法 公开/授权日:2021-10-01