- 专利标题: 一种基于色散媒质的频率扫描天线、控制方法及应用
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申请号: CN202110526113.5申请日: 2021-05-14
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公开(公告)号: CN113437484B公开(公告)日: 2022-06-21
- 发明人: 张鹏飞 , 冯今又 , 雷帅帅 , 王荣娟 , 葛辉 , 许鑫 , 赵一豪 , 孙文博
- 申请人: 西安电子科技大学
- 申请人地址: 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学
- 专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学
- 代理机构: 西安长和专利代理有限公司
- 代理商 黄伟洪
- 主分类号: H01Q1/36
- IPC分类号: H01Q1/36 ; H01Q1/34 ; H01Q1/28 ; H01Q1/00 ; H01Q1/50 ; H01Q3/22 ; H01Q3/30 ; G01S7/02
摘要:
本发明属于天线技术领域,公开了一种基于色散媒质的频率扫描天线、控制方法及应用,包括色散斜劈媒质块和馈电阵列。色散斜劈媒质块覆盖于馈电阵列上且预留间隔。本发明利用色散斜劈媒质块产生的色散相移和斜坡产生的基础相移叠加后形成随频率变化的相位差。当相位差附加在常规均匀馈电阵列相邻单元上可以实现波束随频率扫描。当相位差附加在传统频扫天线时,可以实现对扫描角度的拓宽。进一步,色散媒质还可以将传统频扫天线中心频点一侧频带对应的扫描范围扩展至越过法线,且波束过零点驻波不会升高,解决了传统频扫天线在过零点处驻波突然升高的问题,提升了频扫范围内天线系统的整体口径利用效率。
公开/授权文献
- CN113437484A 一种基于色散媒质的频率扫描天线、控制方法及应用 公开/授权日:2021-09-24