- 专利标题： 一种基于雾化芯的粒径分布的测量方法和测量装置
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申请号： CN202110607387.7申请日： 2021-06-01
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公开(公告)号： CN113252519B公开(公告)日： 2021-10-01
- 发明人: 刘建平 , 王腾飞 , 张晗芬 , 王成 , 刘昊洋 , 朱银 , 王威
- 申请人： 武汉云侦科技有限公司
- 申请人地址： 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷二路219号鼎杰现代机电信息孵化园一期10栋8层01号
- 专利权人： 武汉云侦科技有限公司
- 当前专利权人： 武汉云侦科技有限公司
- 当前专利权人地址： 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷二路219号鼎杰现代机电信息孵化园一期10栋8层01号
- 代理机构： 武汉智权专利代理事务所
- 代理商 张凯
- 主分类号： G01N15/02
- IPC分类号： G01N15/02 ; G06F30/27 ; G06F17/16
摘要：
本申请实施例涉及一种基于雾化芯的粒径分布的测量方法和测量装置，涉及颗粒物粒径测量的技术领域，包括以下步骤：获取经过雾化芯的待测气体样本的遮光率；将待测气体样本的遮光率输入到一个粒径映射模型中，得到待测气体样本的粒径分布系数；其中，所述粒径映射模型是基于所述雾化芯预先构建的气体样本的遮光率和粒径分布系数的数学模型。本申请实施例提高光电探测的灵敏度，且不受限于待测的颗粒粒径范围要求，提高粒径分布的测量准确性和测量效率。
公开/授权文献
- CN113252519A 一种基于雾化芯的粒径分布的测量方法和测量装置 公开/授权日：2021-08-13
