发明授权
- 专利标题: 无线设备的射频性能测试方法及系统
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申请号: CN202010075518.7申请日: 2020-01-22
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公开(公告)号: CN113242101B公开(公告)日: 2023-01-13
- 发明人: 于伟 , 漆一宏 , 沈鹏辉
- 申请人: 深圳市通用测试系统有限公司(CN)
- 申请人地址: 广东省深圳市宝安区桃花源科技创新园A栋101-106
- 专利权人: 深圳市通用测试系统有限公司(CN)
- 当前专利权人: 深圳市通用测试系统有限公司(CN)
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市宝安区桃花源科技创新园A栋101-106
- 代理机构: 北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理商 王艳斌
- 主分类号: H04B17/15
- IPC分类号: H04B17/15 ; H04B17/29 ; H04B17/00 ; H04B17/391
摘要:
本发明提出一种无线设备的射频性能测试方法及系统,无线设备包括至少一个被测天线,该方法通过获取被测天线的近场辐射方向图信息;根据被测天线的近场辐射方向图信息生成被测天线的远场辐射方向图信息;根据被测天线的远场辐射方向图信息以及无线信道模型生成吞吐率测试信号;以及将吞吐率测试信号馈入无线设备的接收机,以对无线设备进行测试。由此,即使天线测试距离无法满足远场条件,也能够实现根据在近场环境下获取的被测天线的近场辐射方向图信息,得到满足远场条件的被测天线的远场辐射方向图信息来进行无线设备的射频性能测试,提高无线设备的射频性能测试的准确性和可靠性。
公开/授权文献
- CN113242101A 无线设备的射频性能测试方法及系统 公开/授权日:2021-08-10