Invention Publication
- Patent Title: 一种生长高质量SiC单晶的装置及生长方法
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Application No.: CN202110177439.1Application Date: 2021-02-07
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Publication No.: CN112981531APublication Date: 2021-06-18
- Inventor: 不公告发明人
- Applicant: 赵丽丽
- Applicant Address: 黑龙江省哈尔滨市松北区智谷二街3043号哈尔滨松北(深圳龙岗)科技创新产业园12栋1-5楼
- Assignee: 赵丽丽
- Current Assignee: 赵丽丽
- Current Assignee Address: 黑龙江省哈尔滨市松北区智谷二街3043号哈尔滨松北(深圳龙岗)科技创新产业园12栋1-5楼
- Agency: 哈尔滨市伟晨专利代理事务所
- Agent 赵君
- Main IPC: C30B29/36
- IPC: C30B29/36 ; C30B25/00
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Abstract:
一种生长高质量SiC单晶的装置及生长方法,它属于碳化硅晶体生长技术领域。本发明要解决的是SiC单晶有瑕疵的问题。本发明装置包括坩埚主体,所述的坩埚主体外侧设置有保温层,坩埚主体的坩埚上盖粘贴籽晶,坩埚主体的中部设置有上层石墨板,坩埚主体的下部设置有下层石墨板,坩埚主体的底部装有硅粉,保温层的外侧设置有石英管,石英管外侧上部环绕上部感应线圈,石英管外侧中部环绕中部感应线圈,石英管外侧下部环绕下部感应线圈。生长原料由纯度不低于10ppm的硅粉以及石墨片组成,实现了无其他杂质掺杂可能,配合新热场以及坩埚能够得到质量较高,生长均匀的SiC单晶。
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IPC分类: