本申请涉及一种备用电路分派方法、装置、设备及介质，所述方法包括：执行第一测试项目，获取第一测试数据，第一测试数据包括执行第一测试项目期间获取的失效位元的位置数据；根据第一测试数据确定第一次备用电路分派结果；执行第二测试项目，获取第二测试数据；当执行第二测试项目期间获取的失效位元包括已分派的地域备用电路及已分派的全域备用电路的修补范围之外的失效位元，且已分派完可分派的地域备用电路时，根据第一测试数据和第二测试数据获取最大目标位元数量；根据最大目标位元数量所处的区间选取目标分派模式，并根据目标分派模式确定第二次备用电路分派结果。以提高备用电路的利用效率及存储芯片良率。