发明公开
CN112798633A 一种阻尼性能的微观测试方法
无效 - 驳回
- 专利标题: 一种阻尼性能的微观测试方法
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申请号: CN202011625294.9申请日: 2020-12-30
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公开(公告)号: CN112798633A公开(公告)日: 2021-05-14
- 发明人: 郭强 , 杨淦婷 , 陆安粮 , 刘煜 , 韩一帆 , 赵蕾
- 申请人: 上海交通大学
- 申请人地址: 上海市闵行区东川路800号
- 专利权人: 上海交通大学
- 当前专利权人: 上海交通大学
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区东川路800号
- 代理机构: 上海段和段律师事务所
- 代理商 李佳俊; 郭国中
- 主分类号: G01N23/2251
- IPC分类号: G01N23/2251 ; G01N23/2202
摘要:
本发明提供了一种阻尼性能的微观测试方法,该方法具体步骤包括:A、将待测材料加工成微纳柱体;B、将微纳柱体进行单轴压缩实验,得到应力‑应变曲线;C、以应力‑应变曲线上弹性变形阶段的应力作为最大载荷,对微纳柱体进行等应力幅度的周期性单向压缩实验,得到工程应力‑时间曲线和工程应变‑时间曲线;D、通过统计步骤C中工程应力‑时间曲线和工程应变‑时间曲线中应变波滞后于应力波的时间,然后计算得到待测材料的阻尼系数。本发明提供了一种可以在微米尺度对材料阻尼性能进行测试的方法,能够准确测量材料的阻尼性能,检测分析精度高,适用性广泛。