发明授权
- 专利标题： 一种仪器仪表调试系统及方法
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申请号： CN202110036497.2申请日： 2021-01-12
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公开(公告)号： CN112765018B公开(公告)日： 2022-09-13
- 发明人: 朱敦尧 , 邓玲敏 , 魏韬 , 肖正佳
- 申请人： 武汉光庭信息技术股份有限公司
- 申请人地址： 湖北省武汉市东湖开发区光谷软件园一期以西、南湖南路以南光谷软件园六期2幢8层208号
- 专利权人： 武汉光庭信息技术股份有限公司
- 当前专利权人： 武汉光庭信息技术股份有限公司
- 当前专利权人地址： 湖北省武汉市东湖开发区光谷软件园一期以西、南湖南路以南光谷软件园六期2幢8层208号
- 代理机构： 武汉蓝宝石专利代理事务所
- 代理商 刘璐
- 主分类号： G06F11/36
- IPC分类号： G06F11/36 ; G06F9/54
摘要：
本发明提供一种仪器仪表调试系统及方法，该系统包括：仪表业务逻辑模块，用于处理编写的仪表业务逻辑代码，构建PC端编译、调试和运行的仿真环境；外围硬件设备模拟模块，用于对TFT/LED进行显示模拟，对按键、存储设备、通信进行操作模拟；共享内存模块，用于提供共享内存供外围硬件设备模拟模块与仪表业务逻辑模块访问，以实现数据传递。通过该方案可以方便嵌入式系统代码的调试和测试，降低硬件成本，并提高仪器仪表调试开发效率。
公开/授权文献
- CN112765018A 一种仪器仪表调试系统及方法 公开/授权日：2021-05-07
