Invention Grant
- Patent Title: 自动分析装置
-
Application No.: CN201980059978.6Application Date: 2019-09-20
-
Publication No.: CN112689764BPublication Date: 2024-07-26
- Inventor: 福士雄大 , 森高通
- Applicant: 株式会社日立高新技术
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 株式会社日立高新技术
- Current Assignee: 株式会社日立高新技术
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 中科专利商标代理有限责任公司
- Agent 吴秋明
- International Application: PCT/JP2019/037098 2019.09.20
- International Announcement: WO2020/071163 JA 2020.04.09
- Date entered country: 2021-03-12
- Main IPC: G01N35/10
- IPC: G01N35/10

Abstract:
自动分析装置(100)具备:样品取样器(11a),将分注对象分注到使分析对象的样品与试剂发生反应的多个反应容器(2)中;测定部(光源(4a)、分光光度计(4)以及控制装置(21)),对反应容器(2)的样品与试剂的反应液进行测定;清洗槽,进行取样器的清洗;以及控制装置(21),对取样器、测定部、以及清洗槽(13)的动作进行控制,清洗槽(13)具有:清洗池(36),存积用于浸渍并清洗取样器的清洗水;以及干燥槽(37),吸引附着于取样器的表面的清洗水,控制装置(21)在将取样器浸渍于清洗池(36)的清洗水中进行清洗后,在干燥槽(37)中吸引取样器的表面的清洗水。由此,能够削减取样器的清洗中的清洗水的使用量。
Public/Granted literature
- CN112689764A 自动分析装置 Public/Granted day:2021-04-20
Information query