发明公开
- 专利标题： 一种基于DCPD法监测SCC裂纹萌生信号的试验装置及方法
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申请号： CN202011334755.7申请日： 2020-11-24
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公开(公告)号： CN112665961A公开(公告)日： 2021-04-16
- 发明人: 匡文军 , 王生凯 , 郭朝维
- 申请人： 西安交通大学
- 申请人地址： 陕西省西安市咸宁西路28号
- 专利权人： 西安交通大学
- 当前专利权人： 西安交通大学
- 当前专利权人地址： 陕西省西安市咸宁西路28号
- 代理机构： 西安通大专利代理有限责任公司
- 代理商 安彦彦
- 主分类号： G01N3/00
- IPC分类号： G01N3/00 ; G01N3/04 ; G01N27/00
摘要：
本发明提供的一种基于DCPD法监测SCC裂纹萌生信号的试验装置和方法，包括试样、直流电源和纳伏表，其中，所述试样的两端为轴肩段，中间段为标距段；所述试样通过轴肩段连接伺服机；所述试样两个轴肩段的端部与直流电源连接；所述标距段的两端和其中一个轴肩段均连接纳伏表；本发明通过对试样设计以及引入参比电位，显著减小温度波动或材料电导率漂移造成的信号波动，完成对裂纹萌生的高精度监测。
公开/授权文献
- CN112665961B 一种基于DCPD法监测SCC裂纹萌生信号的试验装置及方法 公开/授权日：2023-06-02
