发明公开
- 专利标题: 用于测量波形玻璃片的表面的系统及方法
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申请号: CN201980049399.3申请日: 2019-07-24
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公开(公告)号: CN112534240A公开(公告)日: 2021-03-19
- 发明人: 杰森·C·阿丁顿 , 本杰明·L·莫兰 , 迈克尔·J·维尔德
- 申请人: 玻璃技术公司
- 申请人地址: 美国俄亥俄州
- 专利权人: 玻璃技术公司
- 当前专利权人: 玻璃技术公司
- 当前专利权人地址: 美国俄亥俄州
- 代理机构: 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理商 龚伟; 李鹤松
- 优先权: 62/702,617 20180724 US
- 国际申请: PCT/US2019/043180 2019.07.24
- 国际公布: WO2020/023599 EN 2020.01.30
- 进入国家日期: 2021-01-25
- 主分类号: G01N21/17
- IPC分类号: G01N21/17 ; G01N21/64
摘要:
提供一种光学检查系统,用于形成指向玻璃片的平面激光片的紫外线激光器及相关光学器件。所述平面激光片与所述玻璃片的表面相交,从而使所述玻璃片的表面发荧光并在所述表面上形成可见波长线。摄像头具有用于检查所述可见波长线的图像传感器。控制系统被配置为接收表示所述可见波长线的图像数据图像数据,对所述数据进行分析和三角测量,以确定与该线相关联的一系列坐标,并且根据所述一系列坐标来创建所述玻璃片的表面的三维图。还提供使用光学检查系统的方法、使用光学检查系统计量表面的方法、以及使用光学检查系统来为表面提供光学反射率信息的方法。