Invention Grant
- Patent Title: 光发射装置的诊断方法
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Application No.: CN202010650885.5Application Date: 2020-07-08
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Publication No.: CN112526248BPublication Date: 2024-01-19
- Inventor: 黄裕铭 , 张益诚 , 黄家宽
- Applicant: 群创光电股份有限公司
- Applicant Address: 中国台湾新竹科学工业园区苗栗县竹南镇科学路160号
- Assignee: 群创光电股份有限公司
- Current Assignee: 群创光电股份有限公司
- Current Assignee Address: 中国台湾新竹科学工业园区苗栗县竹南镇科学路160号
- Agency: 北京同立钧成知识产权代理有限公司
- Agent 张娜; 臧建明
- Priority: 62/902,422 2019.09.19 US
- Main IPC: G01R31/00
- IPC: G01R31/00 ; G01R19/25

Abstract:
本揭露提供一种光发射装置的诊断方法。所述光发射装置包括至少一区域,并且所述至少一区域的每一区具有多个发光单元。所述诊断方法包括以下步骤:通过电流点亮所述至少一区域的其中之一的所述多个发光单元;比较所述电流所对应的电压值与对应于所述至少一区域的所述其中之一的第一标准电流所对应的第一标准电压值;以及依据比较所述电压值与所述第一标准电压值的结果来判断所述至少一区域的所述其中之一是否异常。因此,本揭露的诊断方法可有效地诊断所述光发射装置的所述至少一区域是否为异常。
Public/Granted literature
- CN112526248A 光发射装置的诊断方法 Public/Granted day:2021-03-19
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