- 专利标题: 一种基于光学时间拉伸的穆勒矩阵测量系统及方法
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申请号: CN202011552217.5申请日: 2020-12-24
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公开(公告)号: CN112525828A公开(公告)日: 2021-03-19
- 发明人: 冯元华 , 江秀美 , 黄剑文 , 周骥 , 高社成
- 申请人: 暨南大学
- 申请人地址: 广东省广州市天河区黄埔大道西601号
- 专利权人: 暨南大学
- 当前专利权人: 暨南大学
- 当前专利权人地址: 广东省广州市天河区黄埔大道西601号
- 代理机构: 广州市华学知识产权代理有限公司
- 代理商 李斌
- 主分类号: G01N21/21
- IPC分类号: G01N21/21 ; G01N21/01
摘要:
本发明公开了一种基于光学时间拉伸的穆勒矩阵测量系统及方法,系统包括宽带脉冲光源、时间拉伸模块、光谱调制模块以及采样模块;所述时间拉伸模块包括滤波器、色散模块以及放大器;所述光谱调制模块包括偏振生成模块以及偏振分析模块;所述采样模块包括光电探测器以及实时采样模块;所述偏振生成模块包括起偏器以及多块波片,用于生成特定的偏振态;所述偏振分析模块包括检偏器以及多块波片,用于对经过样品后的光束偏振态进行解析。本发明将光学时间拉伸技术用于穆勒矩阵测量,测量速度可达到100MHz量级,单次穆勒矩阵测量时间提高到10ns量级,从而克服现有技术中穆勒矩阵测量实时性较差,测量速度较慢的问题。
公开/授权文献
- CN112525828B 一种基于光学时间拉伸的穆勒矩阵测量系统及方法 公开/授权日:2022-11-29