Invention Publication
- Patent Title: 电路板的清洁检测方法、系统、装置、设备和存储介质
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Application No.: CN202011227602.2Application Date: 2020-11-06
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Publication No.: CN112461852APublication Date: 2021-03-09
- Inventor: 董世儒 , 吴长雷 , 李勇 , 丁俊超 , 浦黎 , 纪庆泉
- Applicant: 中广核核电运营有限公司 , 中国广核集团有限公司 , 中国广核电力股份有限公司
- Applicant Address: 广东省深圳市福田区莲花街道福中社区深南中路中广核大厦北楼6层; ;
- Assignee: 中广核核电运营有限公司,中国广核集团有限公司,中国广核电力股份有限公司
- Current Assignee: 中广核核电运营有限公司,中国广核集团有限公司,中国广核电力股份有限公司
- Current Assignee Address: 广东省深圳市福田区莲花街道福中社区深南中路中广核大厦北楼6层; ;
- Agency: 广州华进联合专利商标代理有限公司
- Agent 高洁
- Main IPC: G01N21/94
- IPC: G01N21/94 ; G01N15/06

Abstract:
本申请涉及一种电路板的清洁检测方法、系统、装置、设备和存储介质,电子设备将电路板上的异物与空气混合,获得混合颗粒;然后通过灰尘颗粒传感器向混合颗粒发射检测激光,并接收检测激光经混合颗粒散射形成的散射激光;对散射激光进行分析,检测混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量;最后,基于各个尺寸的颗粒物的数量,计算混合颗粒的颗粒浓度分布数据。采用上述方法可以实现对电路板上的异物的定量分析,从而可以对电路板指定精准的养护和清洁策略。
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