本申请涉及一种阵列基板和包括该阵列基板的显示面板与大玻璃面板，其中，阵列基板设有测试结构，测试结构包括基底和依次叠设于基底上的第一导电层、绝缘层、第二导电层和钝化层，钝化层开设有依次贯穿钝化层、第二导电层和绝缘层并停止于第一导电层的第一凹槽和贯穿钝化层并停止于第二导电层的第二凹槽，第一凹槽和第二凹槽中的其中一个凹槽为大凹槽，其余凹槽为小凹槽，大凹槽的开口尺寸大于小凹槽的开口尺寸，大凹槽的开口尺寸大于或等于300μm；钝化层上形成有覆盖第一凹槽的内壁和第二凹槽的内壁以连接第一导电层和第二导电层的测试电极。上述阵列基板，通过优化测试结构中的凹槽分布和尺寸，避免测试过程中的探针与基板灼伤现象。