发明授权
- 专利标题: 用于制备可转移的薄层的方法
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申请号: CN201880085526.0申请日: 2018-11-15
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公开(公告)号: CN112219262B公开(公告)日: 2024-02-06
- 发明人: P·罗卡伊卡巴罗卡斯 , 陈王华 , 罗曼·卡里乌
- 申请人: 国家科学研究中心 , 法国光伏研究所 , 综合工科学校 , 道达尔公司 , 法国电力公司
- 申请人地址: 法国巴黎
- 专利权人: 国家科学研究中心,法国光伏研究所,综合工科学校,道达尔公司,法国电力公司
- 当前专利权人: 国家科学研究中心,法国光伏研究所,综合工科学校,道达尔公司,法国电力公司
- 当前专利权人地址: 法国巴黎
- 代理机构: 北京派特恩知识产权代理有限公司
- 代理商 李雪; 陈万青
- 优先权: 1760749 2017.11.15 FR
- 国际申请: PCT/EP2018/081461 2018.11.15
- 国际公布: WO2019/096947 FR 2019.05.23
- 进入国家日期: 2020-07-06
- 主分类号: H01L21/20
- IPC分类号: H01L21/20 ; H01L21/762
摘要:
本发明涉及一种用于制备包括至少一个全单晶半导体层的半导体材料的方法,该方法包括以下步骤:(i)预处理第一衬底的表面以容纳单晶硅层;(ii)在步骤(i)中获得的单晶硅层上,使用等离子体增强化学气相沉积(PECVD),通过具有生长速率梯度的外延生长来沉积单晶硅层;以及(iii)在步骤(ii)中获得的单晶硅层上外延生长半导体材料的单晶层,由此获得包括至少一个全单晶半导体层的材料。本发明还涉及一种多层材料,该多层材料包括半导体材料的单晶层。
公开/授权文献
- CN112219262A 用于制备可转移的薄层的方法 公开/授权日:2021-01-12
IPC分类: