Invention Publication
CN112197818A 一种超导磁体性能检测设备及方法
无效 - 驳回
- Patent Title: 一种超导磁体性能检测设备及方法
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Application No.: CN202011387049.9Application Date: 2020-12-02
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Publication No.: CN112197818APublication Date: 2021-01-08
- Inventor: 戴少涛 , 李中煜 , 胡磊 , 洪智勇 , 马韬 , 常同旭 , 马化韬 , 李芳昕
- Applicant: 江西联创光电超导应用有限公司 , 江西联创光电科技股份有限公司
- Applicant Address: 江西省南昌市高新技术开发区京东大道168号科技大楼107号一、二楼
- Assignee: 江西联创光电超导应用有限公司,江西联创光电科技股份有限公司
- Current Assignee: 江西联创光电超导应用有限公司,江西联创光电科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 江西省南昌市高新技术开发区京东大道168号科技大楼107号一、二楼
- Agency: 北京睿博行远知识产权代理有限公司
- Agent 龚家骅
- Main IPC: G01D21/02
- IPC: G01D21/02

Abstract:
本发明涉及超导磁体设备技术领域,公开了一种超导磁体性能检测设备及方法,超导磁体性能检测设备包括:超导带材检测装置,用于检测超导带材的载流能力和强度能力,且超导带材检测装置包括弯曲装置和拉伸机;磁体检测装置,用于检测超导磁体的气隙中各位置磁场的强弱;真空特性检测装置,用于检测杜瓦容器的真空特性;超导磁体的热均匀性或导热性检测装置,用于检测超导磁体的热均匀性或超导磁体的导热性能;本发明通过磁体检测装置保证了本发明检测设备的适用性,可对不同结构的超导磁体的气隙空间的磁场进行检测,结构简单;本发明设备应用的超导磁体性能检测方法,程序化了检测过程,大大提高了检测效率,且保证了本发明装置的精确性。
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