Invention Grant
- Patent Title: FPGA芯片内定值及参数单粒子效应的检错装置及方法
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Application No.: CN202010931932.3Application Date: 2020-09-08
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Publication No.: CN112181735BPublication Date: 2022-09-23
- Inventor: 叶海 , 周华良 , 郑玉平 , 崔玉 , 王海全 , 周建平 , 宋斌 , 夏雨 , 姜雷 , 吴通华 , 刘锐
- Applicant: 国电南瑞科技股份有限公司 , 国电南瑞南京控制系统有限公司 , 国家电网有限公司华东分部 , 国网江苏省电力有限公司 , 国网江苏省电力有限公司检修分公司 , 国家电网有限公司 , 南瑞集团有限公司 , 国网电力科学研究院有限公司
- Applicant Address: 江苏省南京市江宁区诚信大道19号; ; ; ; ; ; ;
- Assignee: 国电南瑞科技股份有限公司,国电南瑞南京控制系统有限公司,国家电网有限公司华东分部,国网江苏省电力有限公司,国网江苏省电力有限公司检修分公司,国家电网有限公司,南瑞集团有限公司,国网电力科学研究院有限公司
- Current Assignee: 国电南瑞科技股份有限公司,国电南瑞南京控制系统有限公司,国家电网有限公司华东分部,国网江苏省电力有限公司,国网江苏省电力有限公司检修分公司,国家电网有限公司,南瑞集团有限公司,国网电力科学研究院有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省南京市江宁区诚信大道19号; ; ; ; ; ; ;
- Agency: 南京苏高专利商标事务所
- Agent 柏尚春
- Main IPC: G06F11/16
- IPC: G06F11/16 ; G06F11/14
Abstract:
本发明公开了FPGA芯片内定值及参数单粒子效应的检错装置及方法，针对在电力二次装置内的FPGA芯片须配置的平台定值、参数等重要数据，通过三模冗余架构与时间反馈冗余架构相结合的架构实现了定值、参数等配置数据单粒子效应错误的监视与错误恢复。本发明实现了错误数据不出口及错误数据的即时恢复，解决了单粒子效应影响配置数据引起的误动、拒动或误操作等严重影响电力系统运行安全的问题，同时，不依赖于外部处理器。
Public/Granted literature
- CN112181735A FPGA芯片内定值及参数单粒子效应的检错装置及方法 Public/Granted day:2021-01-05
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